Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop, auch Rastertunnelmikroskop oder Tunnelrastermikroskop genannt, ist ein Instrument, das den Tunneleffekt der Quantentheorie nutzt, um die Oberflächenstruktur von Substanzen zu erkennen. Es wurde 1981 von G. Binning und H. Rohrer im IBM-Labor in Zürich (Schweiz) erfunden, und die beiden Erfinder teilten sich 1986 mit Ernst Ruska den Nobelpreis für Physik.
Als Rastersondenmikroskopie-Werkzeug ermöglicht die Rastertunnelmikroskopie Wissenschaftlern, einzelne Atome zu beobachten und zu lokalisieren, und sie hat eine höhere Auflösung als ihre Gegenstücke in der Rasterkraftmikroskopie. Darüber hinaus kann die Rastertunnelmikroskopie Atome bei niedrigen Temperaturen (4K) mithilfe von Sondenspitzen präzise manipulieren, was sie zu einem wichtigen Mess- und Verarbeitungswerkzeug in der Nanotechnologie macht.
Mithilfe von STM können Menschen zum ersten Mal die Anordnung einzelner Atome auf der Oberfläche von Materie und die physikochemischen Eigenschaften im Zusammenhang mit dem elektronischen Verhalten der Oberfläche in Echtzeit beobachten. Es hat eine große Bedeutung und breite Anwendungsaussichten in der Forschung in den Bereichen Oberflächenwissenschaft, Materialwissenschaft, Biowissenschaft und anderen Bereichen und wird von der internationalen Wissenschaftsgemeinschaft als eine der zehn größten technologischen Errungenschaften der Welt in den 1980er Jahren anerkannt.